Schichtdickenmessgerät LEPTOSKOP

Schichtdickenmessgerät LEPTOSKOP 2042 NFE

Basispaket enthält:
Sonde NFe 0° Messbereich: 0-1.000 µm
Kalibrierfoliensatz und Kontrollkörper NFe
Lieferung in handlichem Transportkoffer
Ihr Preis Total CHF 2'099.10
pro Stk
exkl. MWST
Artikel-Nr. KD2042.902
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Produktbeschreibung

Messverfahren


Wirbelstromverfahren (DIN EN ISO 2360) Für alle nicht leitenden Schichten auf (elektrisch) leitfähigem Grundmaterial (NFe) wie z.B. Lack, Farbe, Pulverlack, Eloxal, Kunststoff, auf z.B. Aluminium, Kupfer, Messing.


Produktbeschreibung


- Steckbare, auswechselbare Sonden für NFe Grundmaterialien

- Präzise Messtechnik in μm, mm, mil, inch

- Offset für Messwertanzeige einstellbar

- Grenzwerte einstellbar

- Kalibrierung auf unbekannter Schicht (Fe)

- Mehrpunktkalibrierung

- Auch ohne Kalibrierung sofort messbereit

- Komfortable Benutzerführung in verständlichem Klartext

- Übersichtliches Grafikdisplay mit heller, batterieschonender Hinterleuchtung

- Bequemes Ablesen des Messwertes durch grosse Ziffern

- Stossabsorbierender Gummischutzrahmen mit Aufstellbügel

- Batteriestandsanzeige optisch und akustisch


Prozessintegration möglich

- Schnittstellen USB / RS232

- Protokollierung von Betriebsstunden und Anzahl der Messungen

- Software-Modul "Statistik" -> Auswertung von bis zu 999 Messwerten

- Software-Modul "Statistik und Datenspeicher -> bis zu 140 Dateien à 999 Messwerten speicherbar



Im Lieferumfang enthalten:

- Gerät mit 2Batterien AA

- Sonde NFe 0° Messbereich: 0-1.000 μm

- Kontrollkörper Fe, Kalibrierfoliensatz

- Betriebsanleitung

- Abnahmeprotokoll/Qualitätsprüfunzertifikat

- Fachliteratur "Die Schichtdickenmessung"

- Transportkoffer

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